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2022-06-30

先進製程領軍:全面剖析半導體產業突破摩爾定律的極限

或許時常能在媒體上看見「蘋果M2晶片即將採用台積電5奈米製程」、「英特爾新款處理器或將交由台積電3奈米代工」等採訪報導,晶片製作採用所謂的「先進製程技術」,但究竟何謂先進製程(advanced process)?在說明先進製程背後的定義與架構之前,要先從主導半導體產業發展的摩爾定律(Moore's Law)開始說起。

 

 

Table of content

 

先進製程的前哨戰:摩爾定律

所謂摩爾定律,是指半導體產業的電晶體將持續朝小型化路徑前行,並在縮小同時、其積體電路上的電晶體數量依舊能以幾何級數的方式快速成長,從原先預測的每年翻一倍、到後來根據產業發展趨勢修正成約18至24個月增加一倍的電晶體數量,如此、將比上一代晶片提升約40%的晶片效能,為產業帶來更多創新。

 

Moore's Law

 

自1965年英特爾創辦人之一的戈登.摩爾於《電子學》雜誌所提出此論調開始,摩爾定律就成為了這逾半世紀以來半導體產業信奉的圭臬,年復一年的技術研發為的就是能持續突破摩爾定律,驅動市場技術往前邁進。這也說明了我們為什麼能從過去的一台黑金剛、到如今的智慧型手機,且不再只是通話,更能多功處理訊息、上網甚至是影音娛樂等需求,全拜這一小顆持續進化的晶片所賜。

而目前市場上常見的28奈米、40奈米甚或是7奈米,其命名主要是依據晶片內「閘極」長度而定,它在晶片裡面扮演的角色就如同自動門,可以在開啟後讓電子順利通過產生電流、發揮作用。不過隨著晶片持續微縮也讓晶片架構逐漸受到挑戰,需從各種面向著手進行調整,其中包括製程架構的修正,才能讓電子的通過受到控制、不至於產生漏電影響晶片效能。

 

先進製程與成熟製程的差異

然現行半導體產業仍走在這條突破摩爾定律道路上的,只剩下台積電、三星以及英特爾(intel),其餘業者都已對外宣布將止步於成熟製程,僅針對現有技術進行優化、但不再投入研發成本推進先進製程的佈局,這也讓人好奇、究竟成熟製程與先進製程之間的差異與產業應用上有何不同?

市場上對於成熟製程其實未有明確的定義劃分,但以7奈米作為分水嶺,以降包括5奈米及3奈米等稱之為先進製程,而7奈米以上則包括16奈米及28奈米等可稱為成熟製程(mature process),同時基於兩種不同製程在晶片體積上的不同,終端應用需求也有顯著差異。

 

difference between advanced and mature process technologies

 

其實,成熟製程並不因先進製程的技術領先而受到排擠,更因為多數應用在效能及成本考量反而會以成熟製程為優先。要知道,正因為在技術上擁有足夠的成熟經驗,讓成熟製程的技術能滿足特殊領域需求,包括車用電子及軍用晶片。

以車用電子來說,常見的微控制器(MCU)在基於移動安全及成本、效能等多方考量下,主力採用45到130奈米的製程技術;而其他像是物聯網、計算與數據處理的晶片,也因為無需追求更小的體積設計,因此都能在成熟製程的技術上獲得效能滿足,這也是為什麼市場上不少宣布停止先進製程技術研發的半導體業者,仍須持續優化現有成熟製程的技術,除了保持市場競爭力外、也積極規劃更具成本效益及效能表現的解決方案予客戶採用。

當然,亦有不少裝置與設備在追求體積的微縮下更加強調效能運作的表現,像是手機、筆電或是雲端資料中心,此時、就需要仰賴先進製程打造的晶片才能達成。

尤其在5G、人工智慧等各種應用如雨後春筍般出現的此刻,大量的數據及圖像資料處理也需要更強大的晶片才能加速運算力。可以說,成熟製程與先進製程其實各領風騷,不同技術都能在各自的舞台上為不同應用持續推進,加速產業進步。即便如此,半導體業界依舊沒有忘記要持續突破摩爾定律的限制,這也讓先進製程演進中,需透過調整架構設計,解決隨著晶片持續微縮而產生的各種挑戰。

 

先進製程架構轉變契機:短通道效應

先進製程的架構之所以成為熱門話題,源自於三星決意在3奈米節點上轉換架構,也讓外界對於台積電、英特爾在原有架構發展自家3奈米的可行性,產生質疑。但這並非半導體在製程上首次改變架構設計,早在16奈米之前、半導體採用的是平面電晶體架構(Planar FET),直到16奈米後才轉換成如今常見的鰭式電晶體架構(FinFET)、並沿用至今。

架構的存在與轉變,主要在於控制晶片內電子流動的表現。每個架構中都會有閘極設計,就像家裡的電燈開關一樣,它能藉由觸發開啟讓電子得以通過,電流的產生就能使晶片運作,但當晶片的尺寸越來越小後,閘極也因為不易控制造成漏電情況發生,稱之為短通道效應(Short Channel Effect)。如此、容易產生過多能源的消耗讓終端裝置的表現大打折扣,這也是為什麼半導體產業從16奈米後需要轉換架構、目的正是為了在逐漸微縮的晶片中持續持續強化電流的控制,以改善短通道效應。

 

advanced semiconductor process technologies

 

一、Planar FET平面電晶體 

平面電晶體,顧名思義其閘極設計是為平面,藉此能讓閘極可以與通道在同個平面上保持接觸,而接觸的緊密程度將影響電流發生漏電的現象。然而當晶片設計持續微縮,通道的距離越來越短,容易造成無法與閘極與其密合、亦無法作為開關,產生短通道效應。過去,半導體業界會以Doping(參雜半導體)的方式解決此一漏電問題,但是當製程縮小、漏電情況也越趨嚴重,平面電晶體架構也面臨到需要改變的時刻。

 

二、FinFET鰭式電晶體 

為了擴大閘極的接觸面積、改善短通道效應,半導體業界將架構從平面改以垂直立體的設計,因為通道側看就像是魚鰭、因而有了鰭式電晶體的名號,市場上自16奈米以下,皆逐步採用鰭式電晶體架構來解決漏電的問題。也因為通道改以垂直的設計,能有效增加與閘極的接觸面積,面對持續推進先進製程技術的半導體業界來說,是在面積微縮情況下的另一解方。

 

三、GAAFET 閘極環繞式電晶體

然而,短通道效應依舊會受到先進製程的持續推進而再度浮現,這也是為什麼三星率先在3奈米節點上,再度提出改變架構的作法。當然,半導體業界也早就做好準備,只是架構的轉換牽一髮而動全身,在製程上的各種環節都有可能受到影響需要調整,因此、基於整體成本與最終效能表現的全盤考量,可以說閘極環繞式電晶體的架構勢在必行,但並不絕對落在3奈米節點。

這一回,半導體業界改採閘極環繞式電晶體,雖同為立體的概念、但鰭式電晶體僅有三面接觸通道,閘極環繞式電晶體則是360度被包覆的環狀結構,因此能更有效的提高對電路的控制與穩定性,減少短通道效應的情況發生。

 

結語

可以見得,半導體在延續摩爾定律的規則下,將持續在製程技術上尋求突破。但面對近乎物理極限的尺寸,如何克服其中不斷浮現的短通道效應,將會是產業未來必須再度面臨到的挑戰;但這並非全盤否定了半導體產業無法按照摩爾定律規則往下走,相反的、在18到24個月內讓單位面積的電晶體數翻倍條件下,業界也持續尋求其他解方,其中包括了異質整合、先進封裝等技術突破,甚至在更趨微縮的空間裡,材料應用也將面臨到新一波的革命。

如今,半導體產業的發展已呈現百花齊放的態勢,如同台積電創辦人張忠謀曾公開發表過的一席「柳暗花明又一村」論調,全球半導體業界依舊在技術、材料與方法上尋找可行的解決方案,滿足摩爾定律的遊戲規則,通往摩爾定律的道路上早已不再只是單行道,但先進製程的推進依舊是引領全球產業持續前進的重中之重。

 

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