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2023-09-21

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SEMI 반도체테스트기술교육은 DC, AC, Logic IC 기초 테스트 기술부터, 최근 크게 상용화되고 있는 모바일/IoT 관련 IC 응용 테스트 개발에 필수적인 SOC, RF, VLSI, 메모리, PMIC 테스트 기술에 대해 다루고 있습니다. 반도체 테스트 기초교육과 기업 현장에서 실제 개발되고 있는 차세대 응용기술을 소개하고, 기존의 세미나 형태를 벗어나 실무교육 위주로 반도체 관련 분야 인력들의 현업 능력을 높이는 것을 목표로 하고 있습니다. 관심 있는 여러분의 많은 참여 부탁드립니다.

Add to Calendar 2023-09-21 00:00:00 2023-09-21 00:00:00 SEMI 반도체테스트기술교육 2023 SEMI 반도체테스트기술교육은 DC, AC, Logic IC 기초 테스트 기술부터, 최근 크게 상용화되고 있는 모바일/IoT 관련 IC 응용 테스트 개발에 필수적인 SOC, RF, VLSI, 메모리, PMIC 테스트 기술에 대해 다루고 있습니다. 반도체 테스트 기초교육과 기업 현장에서 실제 개발되고 있는 차세대 응용기술을 소개하고, 기존의 세미나 형태를 벗어나 실무교육 위주로 반도체 관련 분야 인력들의 현업 능력을 높이는 것을 목표로 하고 있습니다. 관심 있는 여러분의 많은 참여 부탁드립니다. 대한민국 코엑스 컨퍼런스룸(남) 4층 402호 SEMI.org contact@semi.org Asia/Seoul public
위치

대한민국
코엑스 컨퍼런스룸(남) 4층 402호

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[행사개요]

  • 교육명: SEMI 반도체테스트기술교육 2023
  • 일정: 2023년 9월 21일(목) 오전 9시 – 오후 5시 40분
  • 장소: 서울 코엑스 컨퍼런스룸(남) 4층 402호
  • 언어: 한국어
  • 주최: SEMI

 

[발표기업]

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[기타사항]

  • 등록절차: 등록양식 제출 > 등록비 결제/입금 > 등록 완료(영수증 이메일 수신)
  • 아젠다는 연사 사정에 의하여 임의로 변경될 수 있습니다.
  • 본 교육은 고용노동부 환급과정이 아닙니다.
  • 등록비에는 교재비가 포함되어 있으며 교육 당일 교재를 현장에서 수령하실 수 있습니다.
  • 점심 식사 및 주차권은 지원하지 않습니다.
  • 참석확인증은 교육 종료 이후 9/22(금) 이메일로 발송됩니다.


[문의]

  • 단체등록 및 기타 문의: SEMI 프로그램팀 (02-531-7831/koreaprograms@semi.org)

 

[반도체테스트기술교육 2022 후기]

반도체테스트 배경지식 함양

  • 테스트에 대한 기초적인 내용을 알기 쉽게 전체적으로 이해가 가능한 강의였습니다.

  • 평소에 공부를 해도 부족하다 느꼈는데 이번 세미나를 통해서 몰랐던 부분에 대해 알게 되었습니다.

  • 테스트 관련 용어들과 개념을 배웠습니다.

테스트산업의 이해 향상

  • 반도체테스트 시장에 대한 전반적인 이해를 할 수 있었습니다.

  • 히스토리부터 최신 동향까지 잘 정리되어 있어서 좋았고 각 회사의 장비 및 테스트공정에 대해 알 수 있어서 좋았습니다.

  • 여러가지 전반적인 테스트 산업 현황과 테스트 프로세스에 대한 내용들을 들을 수 있어 좋았습니다.

  • 쉽게 듣지 못할 반도체 업계의 현황과 미래에 대해 들을 수 있었습니다.

현업 전문가의 실무적 강의

  • 업계에서 근무하시는 분들을 강사로 모셔서 실무에 필요한 내용에 대해 강의를 들을 수 있어서 좋았습니다.

  • 교육 강사님들이 현재 반도체 시장을 잘 알고 계신 분들이었기 때문에 가장 정확한 정보를 들을 수 있었습니다.

  • 테스트관련 다양한 분야 전문가 교육으로 다방면 지식 확보 가능하였습니다

  • 발표자의 준비가 철저하고 설명을 열심히 해 주셨습니다!

아젠다

8:30 am - 9:00 am

Welcome

9:00 am - 10:20 am
TEST2022_Cohu 고현수 부사장_사진_220907.png
고진수
부사장
Cohu

Semiconductor Test and Market

- Semiconductor Market
- IC Manufacturing process
- ATE system architecture
- ATE Instrument structure
- Introduction of IC test

※ 연사정보

10:20 am - 10:35 am

Break

10:35 am - 11:55 am
오종익 Teradyne 상무 사진.png
오종익
상무
Teradyne

Mobile SOC RF Test Introduction

최근 초연결성 환경의 구축을 위해 반드시 필요한 RF device 및 marker trend 에 대해 소개하며, 최신(mmWave) 및 전통적으로 사용되고 있는 RF device 들의 test 를 위해 필요한 조건 및 각각의 test 항목에 대한 이해를 통해 보다 effective 한 Test 환경 구축 방법에 대해 이해하는 시간이 되기를 바랍니다.

※ 연사정보

11:55 am - 1:10 pm

Lunch

1:10 pm - 2:30 pm
TF_Advantest_Jeongseob Kim.jpg
김정섭
상무
Advantest

Power & Analog Test Introduction

LED driver, PMIC, BMIC , IGBT, Silicon Carbide등 Mobile, Automotive향 Power application의 전반적인 구조 및 동작을 설명하고 test에 필요한 기본적인 요소를 이해하도록 한다. 또한 이를 측정하기 위한 ATE hardware및 device의 신뢰도를 최대화할 test방법 및 환경에 대해 설명합니다.

※ 연사정보

2:30 pm - 2:45 pm

Break

2:45 pm - 4:05 pm
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이기철
TL
SK하이닉스

DRAM:Wafer & Package

- Test Introduction
- Wafer Test Process Overview
- Package Test Process Overview
- Memory Test Hardware System Introduction

※ 연사정보

4:05 pm - 4:20 pm

Break

4:20 pm - 5:40 pm
TEST2022_KIST 장준연 분원장_사진_220908.JPG
장준연
박사
KIST

Future Memory Devices

DRAM 등으로 대변되는 메모리소자는 지속적인 크기 축소에 따라 10nm공정기술이 적용되고 있으며 수년내에 그 한계에 도달할 것으로 예측되고 있다. 더구나 모바일기기의 확산으로 초저전력 비휘발성 메모리소자에 대한 기술개발이 강하게 요구되고 있다. 기존 메모리소자를 대체할 수 있는 차세대 비휘발성 메모리 소자로 상변화메모리, 저항메모리, 스핀메모리 소자등이 거론되고 있는데 본 강의에서는 미래 메모리 소자로 주목 받고 있는 소자들을 소개 한다.

※ 연사정보

등록안내

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※ 사전등록기간: 2023년 8월 1일(화) 오전 10시 ~ 9월 13일(수) 오후 5시

[등록비용]

가격 SEMI 회원사 비회원사/일반
사전등록 180,000원 210,000원
현장등록 200,000원 230,000원

 

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